機(jī)器視覺之缺陷檢測(cè)

 成都新西旺科技在機(jī)器視覺缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域（尤其是線掃描系統(tǒng)）具備豐富的工程經(jīng)驗(yàn)，在精密結(jié)構(gòu)、運(yùn)動(dòng)控制、模式識(shí)別、特征搜索、并行計(jì)算加速等方面具有深厚的技術(shù)沉淀。以下是缺陷檢測(cè)系統(tǒng)的案例：

1.基于顏色特征的缺陷檢查

主要對(duì)被測(cè)物表面的色彩特征，基于RGB、YCbCr、HSI等多種色彩空間的向量特征進(jìn)行統(tǒng)計(jì)學(xué)處理，采用模式分類、特征學(xué)習(xí)等多種方法，將缺陷特征與正常特征相區(qū)別，判定和識(shí)別缺陷位置。主要應(yīng)用于印刷包裝、PCB制造、醫(yī)療設(shè)備等領(lǐng)域。

2. 基于幾何特征的缺陷檢查

主要針對(duì)產(chǎn)品的幾何形狀特征，結(jié)合CAD等已知特征信息，對(duì)產(chǎn)品的相對(duì)應(yīng)區(qū)域進(jìn)行噪聲處理以及特征的提取、擬合、參數(shù)提取，然后與設(shè)計(jì)特征比較，對(duì)偏離值超出設(shè)定值的區(qū)域位置進(jìn)行判定。

3. 基于紋理、Blob等統(tǒng)計(jì)特征的缺陷檢查

針對(duì)產(chǎn)品的表面灰度分布特征進(jìn)行統(tǒng)計(jì)，采用高階統(tǒng)計(jì)因子、邊緣檢測(cè)算子等方法將缺陷點(diǎn)與背景進(jìn)行分離，快速識(shí)別缺陷位置。